
簡要描述:華測(cè)儀器離子遷移(CAF)評(píng)估系統(tǒng)離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
Huace離子遷移(CAF)評(píng)估系統(tǒng)
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離子遷移(CAF)評(píng)估系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn),是一款用于評(píng)估電子材料與元器件絕緣可靠性的信賴性試驗(yàn)設(shè)備,是用于捕捉高溫、高濕、電場(chǎng)等復(fù)雜環(huán)境下,材料及元器件因離子遷移引發(fā)的絕緣電阻劣化過程,準(zhǔn)確判斷失效風(fēng)險(xiǎn),為產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)控及失效分析提供科學(xué)數(shù)據(jù)支撐,普遍應(yīng)用于電子、汽車、新能源等多行業(yè)高可靠性產(chǎn)品的測(cè)試需求。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量電壓:100 ~ 1500V(可定制)
測(cè)試通道:128通道(可定制至高960通道)
測(cè)試時(shí)長:可連續(xù)運(yùn)行1500小時(shí)
測(cè)試溫度:85℃(可定制)
測(cè)試濕度:85%(可定制)
測(cè)量范圍:1×105 ~ 1×1015Ω
極化電壓:100 ~ 1500V(可定制)
掃描周期:至快2分鐘(128通道)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
安全與穩(wěn)定性強(qiáng):具備緊急停止、過溫切斷加熱斷路器等保護(hù)功能,配備防反水加濕水路系統(tǒng)與二級(jí)加濕用水過濾保護(hù),既保障操作安全,又延長設(shè)備使用壽命;部分型號(hào)可選購觀察窗隱私功能,保護(hù)試件隱私。
可定制適配性:支持測(cè)試參數(shù)、通道數(shù)量、環(huán)境模擬條件等按需定制,可適配標(biāo)準(zhǔn)樣材、異形件(夾取方式)測(cè)試,兼容行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),滿足不同行業(yè)、不同產(chǎn)品的個(gè)性化測(cè)試需求。

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