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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HC-RD-1100高溫塞貝克系數與電阻測試系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HC-RD-1100高溫塞貝克系數與電阻測試系統由華測儀器生產，該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
產品參數
01.溫度范圍:RT~800/1100/1200℃
02.測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.樣品支架:三明治結構夾與兩電極之間
05.樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm
06.樣品尺寸(圓盤狀):10、12.7、25.4 mm
07.可調探頭距離:4、6、8mm
08.塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%
09.電導率測量范圍:0.01~2*105s/cm準確度±5-8%;再現性±3%
10.電源:0~ 1A，具長期穩定性
11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
12.熱電偶:K/S/C型
測試軟件
該軟件集成計算機控制系統，適配Windows 10/11操作系統，可自動完成信號激勵、數據采集、實時處理及結果輸出全流程，并通過可視化界面直觀呈現測試成果，提升了操作便捷性與測試效率。
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