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熱電材料塞貝克系數(shù)/電阻測試系統(tǒng)

簡要描述：華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)/電阻測試系統(tǒng)該產品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。

產品型號：HC-RD-1100
廠商性質：生產廠家
更新時間：2026-03-12
訪問量：33

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品牌	華測儀器	產地類別	國產
應用領域	能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)/電阻測試系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)/電阻測試系統(tǒng)由華測儀器生產，是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數(shù)和電阻率；軟件可自動完成信號激勵、數(shù)據(jù)采集、實時處理及結果輸出全流程，并通過可視化界面直觀呈現(xiàn)測試成果，提升了操作便捷性與測試效率。

產品優(yōu)勢

1.寬溫區(qū)覆蓋與高適應性

支持 RT 至 1200℃ 寬溫度范圍，兼容低溫至高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求

提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，適配材料在不同反應條件下的性能評估

2. 高穩(wěn)定性與長周期測試能力

電源輸出 0～1A，具備長期穩(wěn)定性，支持連續(xù)高溫實驗與長時間數(shù)據(jù)采集

配備K/S/C型熱電偶，實現(xiàn)準確溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制

產品參數(shù)

測量原理：塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法

樣品支架:三明治結構夾于兩電極之間

樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm

樣品尺寸(圓盤狀):10、12.7、25.4 mm

可調探頭距離:4、6、8mm

塞貝克系數(shù)測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%

電導率測量范圍:0.01~2*10⁵s/cm準確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%

電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)

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